Techniques de caractérisation des dispositifs à semiconducteurs

Topic outline

• Select topic Techniques de caractérisation des dispositifs semiconducteurs

  Techniques de caractérisation des dispositifs semiconducteurs

  Collapse all Expand all

  Semestre: 2

  Unité d’enseignement: UEF 1.2.2

  Matière 3 : Techniques de caractérisation des dispositifs semiconducteurs

  VHS: 45h00 (Cours: 1h30, TD: 1h30)

  Crédits: 4

  Coefficient: 2

  Responsable de la Matière d'enseignement: Dr Beghoul Mahmoud Riad

  Adresse mail: beghoul@univ-jijel.dz
• Select topic Chapitre 1 : Introduction aux techniques de caractérisation des dispositifs semiconducteurs

  Chapitre 1 : Introduction aux techniques de caractérisation des dispositifs semiconducteurs

  Le développement des techniques de caractérisation des matériaux semiconducteurs constitue le socle dans l’étude des dispositifs microélectroniques. Il est souvent utile d’avoir recourt à plusieurs techniques afin d’analyser les semiconducteurs et de déterminer les différents aspects régissant leurs propriétés, surtout qu’il n’existe pas une technique unique capable de fournir toutes les informations morphologique, électrique et optique nécessaires à une étude.

  Le nombre de techniques disponibles actuellement et leur diversité permettent de réaliser des caractérisations complémentaires pour une analyse approfondie et précise des propriétés physiques des matériaux.

  L’objectif de cette matière est de permettre à l’étudiant de comprendre le principe des techniques de caractérisation et leur intérêt dans le domaine des dispositifs à semiconducteurs. Déterminer la (ou les) méthode(s) de caractérisation à appliquer sur un échantillon semiconducteur afin d’en extraire les propriétés fondamentales souhaitées.

  
• Select topic Chapitre 2 : Rappels sur les propriétés des semiconducteurs

  Chapitre 2 : Rappels sur les propriétés des semiconducteurs
• Select topic Chapitre 3 : Contact Métal/Semiconducteur

  Chapitre 3 : Contact Métal/Semiconducteur

  

  • Select activity Chapitre 3 Contact Métal/Semiconducteur

    

    Chapitre 3 Contact Métal/Semiconducteur File

    Contact Métal/Semiconducteur 

    Techniques de caractérisation électrique

    - I(C), C(V) et DLTS
• Select topic Chapitre 4 : Techniques de mesure de la résistivité par la méthode des quatre pointes

  Chapitre 4 : Techniques de mesure de la résistivité par la méthode des quatre pointes

  
• Select topic Chapitre 5 : Techniques de mesure de la concentration des porteurs libres et de leur mobilité dans un semiconducteur par la mesure de l’effet Hall

  Chapitre 5 : Techniques de mesure de la concentration des porteurs libres et de leur mobilité dans un semiconducteur par la mesure de l’effet Hall

  
• Select topic Chapitre 6 : Techniques d’analyses Structurales

  Chapitre 6 : Techniques d’analyses Structurales

  

  Microscopie Electronique à Balayage(MEB), Microscopie à Force Atomique (AFM) et Spectroscopie Raman
  

  
  
• Select topic Chapitre 7 : Techniques de mesures optiques

  Chapitre 7 : Techniques de mesures optiques

  
• Select topic Exposés Thématiques

  Exposés Thématiques

  Groupes et planning des exposés par visioconférence

  Microsoft Teams

  ou

  Google Meet
• Select topic Devoir

  Devoir
• Select topic Test d'Evaluation

  Test d'Evaluation