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  • Matière ST10 : Compatibilité Electromagnétique

    • Unité d’enseignement: UED1.1

      Matière :Compatibilité électromagnétique

      VHS: 22h30 (Cours: 1h30),  Crédits: 1 , Coefficient: 1

      Responsables de la matière: DR ROUIBAH Ammar

      Mail: ammar.rouibah@univ-jijel.dz 

      Objectifs de l’enseignement :

      Cette matière va permettre de faire découvrir aux étudiants les perturbations basses fréquences et hautes fréquences, ainsi que les mécanismes dans les circuits électroniques (CEM). Les fondements théoriques sur la compatibilité électromagnétique (CEM) avec  les descriptions des principales interactions électromagnétiques sont décrits.

      Connaissances préalables recommandées :

      Les notions de base en électrostatique et en électromagnétisme.


    • Chapitre 1. Phénomènes électrostatiques et magnétostatiques

      Origine des phénomènes électrostatiques et magnétostatiques, Problèmes des perturbations ECM en BF et H.F, Lignes de champ électrostatiques, Caractéristiques du champ électrostatique et électromagnétique, Application dans le cas de la compatibilité électromagnétique.

      Chapitre 2. Méthode de calcul des interactions électromagnétiques

      Notion de graphe de la représentation par la Méthode de Kron, Matrice des impédances,  Vecteur des sources et Connectivité, Résolution du système d'équations, Principe général des ondes guidées, Potentiel et vecteur de Poynting.

      Chapitre 3. Pénétration dans les blindages de câbles

      Traitement des boitiers blindés, Sources de bruit dans les circuits électroniques, Évolution des technologies, Conséquences sur la CEM, Modélisation CEM et composants, Rayonnement E, H.

      Chapitre 4. Les techniques d’investigation en CEM

      Tests d'immunité aux décharges électrostatiques et magnétiques, Tests d'immunité aux perturbations conduites, Tests d'immunité aux perturbations rayonnées.

      Chapitre 5. Les Techniques de protection en CEM

      Protection des composants et des blindages, Filtrage, Protection contre les surtensions.


  • Chapitre 01

    •  Origine des phénomènes électrostatiques et magnétostatiques, Problèmes des perturbations ECM en BF et H.F, Lignes de champ électrostatiques, Caractéristiques du champ électrostatique et électromagnétique, Application dans le cas de la compatibilité électromagnétique.


  • Chapitre 02

    • Notion de graphe de la représentation par la Méthode de Kron, Matrice des impédances, Vecteur des sources et Connectivité, Résolution du système d'équations, Principe général des ondes guidées, Potentiel et vecteur de Poynting.


    • méthode de calcul de Kron

  • Chapitre 03

    • Traitement des boitiers blindés, Sources de bruit dans les circuits électroniques, Évolution des technologies, Conséquences sur la CEM, Modélisation CEM et composants, Rayonnement E, H.


  • Chapitre 04

    • Tests d'immunité aux décharges électrostatiques et magnétiques, Tests d'immunité aux perturbations conduites, Tests d'immunité aux perturbations rayonnées.


  • Chapitre 05

    Les Techniques de protection en CEM                              

  • Références bibliographiques

    1.    D.Cheng ‘’Field and Wave Electromagnetics, Pearson Education, New York,2006.

    2.    D.Pozar ‘Microwave engineering, Addisson Wesley publishing Company New York,1995.

    3.    M. Mardiguian, "Manuel pratique de compatibilité électromagnétique", Lavoisier

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