Le polycopié proposé couvre le contenu des différents chapitres du programme de formation Master
Microélectronique de manière objective et structurée permettant à l’étudiant de comprendre les principes
des techniques de caractérisation et leur intérêt dans le domaine des dispositifs à semiconducteurs,
notamment les contacts Métal/Semiconducteur, les caractérisations électriques (I-V, C-V, DLTS), la
méthode des quatre pointes, l’effet Hall, ainsi que les techniques de caractérisation structurales MEB,
AFM, Raman et les Mesures optiques. Ce polycopié ainsi organisé permettra à l’étudiant de mettre en
place un protocole d’étude et d’analyse à partir de techniques de caractérisation à appliquer sur un
échantillon semiconducteur afin d’en extraire les propriétés fondamentales souhaitées. Le contenu
scientifique et pédagogique correspond au programme officiel de l’unité fondamentale UEF2 du 1er
semestre de la formation de master Microélectronique.